Üniversal Takım Mikroskopları için genel ölçüm yöntemleri nelerdir?
1. Kartezyen koordinat ölçümü:
Ölçüm yalnızca ölçülen nesnenin Kartezyen koordinat yönü çapraz şekilli çalışma masasının hareket yönüyle tutarlı olduğunda gerçekleştirilebilir. Kartezyen koordinat ölçümü kullanıldığında, Kartezyen koordinat değerleri çapraz hareketli çalışma masasının hareketi ile doğrudan okunabilir. Büyük alet mikroskopları için, hedefleme deliğindeki kartezyen koordinat ölçümündeki görüntü, doğru ölçüm için gözlem gözüne bağlanabilir. Ölçülen nesnenin ve çapraz hareketli çalışma masasının Kartezyen koordinat yönünü kalibre ederken, büyük alet mikroskobu üzerine monte edilmiş, monte edilmiş bir döner çalışma masasının kullanılması çok uygundur. Küçük alet mikroskopları için yalnızca döner çalışma masası aksesuarına ihtiyaç vardır.
2. Açı ölçümü:
Ölçüm, dönen bir tezgah veya açılı gözlem merceği kullanılarak yapılabilir. Genel olarak konuşursak, açılı gözlem merceklerinin doğruluğu daha iyidir.
3. Yükseklik ölçümü:
Küçük bir alet mikroskobu yüksekliği ölçemese de, bir destek sütununun üst ucuna gümüş bir ölçüm aleti monte edilirse ve daha sonra mikroskop kullanılarak yukarı ve aşağı hareket ettirilirse yükseklik ölçülebilir. Ancak odak derinliği, sütun eğimi ve gümüş ölçümü ile optik eksen arasındaki hatalar gibi faktörlerden dolayı doğru bir şekilde belirlenmesi oldukça zordur.
4. Diyafram ölçümü:
Genellikle ölçüm için açılı gözlem mercekleri kullanılır, ancak büyük alet mikroskopları, üst üste binen görüntü gözlem mercekleri veya üst üste binen iki görüntü oluşturmak için üst üste binen görüntü merceklerini kullanan ve ardından aynısını karşı tarafta yapan optik dedektörleri kullanabilir. Bu nedenle hareket miktarına göre deliğin iç çapı görüntülenebilmektedir. Bir optik dedektör kullanılıyorsa, önce onu 3x nesne merceğine takın, dedektörün ve çalışma masasının hareket yönü ile hizalayın ve ardından gözlem aynası içindeki örtüşme çizgisini gözlem merceğinin artı işaretine paralel olacak şekilde ayarlayın, böylece dedektör delik yüzeyine temas eder. *Daha sonra, üst üste binen çizginin ters hareketini düzeltmek için Y-ekseni üzerindeki beslemeyi kullanın ve X-ekseni üzerinde ölçülen değerleri okumak için gözlem merceğinin on alt çizgisini üst üste binen çizgiler arasına sıkıştırmak için X-ekseni beslemesini kullanın. Aynı şey karşı taraftaki delikler için de geçerlidir, böylece deliğin iç çapı, okumalardaki farkın prob çapına eklenmesiyle elde edilebilir.
