Kaplama kalınlığı ölçüm cihazlarının hataları tespit etmesinin altı ana nedeni vardır.
Yeni bir manyetik indüksiyon teknolojisi olan Hall etkisi, kaplama kalınlığı ölçerde kullanılır. Elektromıknatısın manyetik alanını ve geçirgenliğini analiz eder, Hall voltajı ile manyetik alan arasındaki ilişkiyi inceler ve Hall voltajı ile çalışma akımı arasındaki ilişkiyi inceler. Bu manyetik alan kendini tekrar etmeye başlar. Bu teoriyi kaplama kalınlığı ölçer ile kullanırken test bileşenini değiştirmeye gerek yoktur. Özellikle ark veya içbükey ürünler ölçülürken kullanımı daha kolay ve pratiktir.
Elektromanyetik indüksiyon tekniği, kaplama kalınlığı ölçeği tarafından kaplamanın kalınlığını belirlemek için kullanılır. Komponent yüzeyine bağlı prob tarafından tam bir manyetik devre üretilir. Manyetik devre, prob ile ferromanyetik malzeme arasındaki mesafe değiştikçe çeşitli derecelerde değişecek ve bu da prob bobininin manyetik direncinde ve endüktansında değişikliklere neden olacaktır. Bu fikir, kaplama kalınlığını veya prob ile ferromanyetik madde arasındaki mesafeyi kesin olarak ölçmek için uygulanabilir.
Kaplama kalınlık ölçer uzun süre kullanılmadığında pilin kilitlenmesini önlemek için rutin olarak şarj edilip boşaltılmalıdır. Bazı küçük iş parçaları veya özellikle ince bir kaplama tabakasına sahip iş parçaları için sürekli ölçüm önerilir.
Kaplama kalınlığı ölçerin ölçüm hatası birkaç faktöre bağlanabilir.
1. Kalınlık ölçer ile ölçülecek malzemenin kendine özgü bir yapısı ve şekli vardır. Ölçüm hataları, çeşitli yapısal konfigürasyonlara sahip iş parçaları üzerindeki manyetik alan dağılımındaki değişikliklerden kaynaklanacaktır.
2. Test edilen malzeme zaten manyetizmaya sahiptir. İşleme sırasında test edilmesi gereken bazı malzemelerde belirli işlem ihtiyaçları veya artık manyetik alanlar bulunabilir. Ölçüm hatasının eşit olmayan dağılımı nedeniyle, aynı iş parçası üzerindeki bazı bileşenlerin ölçülen değerleri aniden büyükten küçüğe değişir.
3. Manyetik alandaki değişiklikler aynı maddenin farklı bileşenlerinden de kaynaklanabilir. Örneğin, manyetik alan dağılımı malzemenin kenarı ve merkezi arasında değiştiği için ölçüm hataları meydana gelir.
4. Ölçülen malzemelerin özellikleri değiştiğinden, manyetik akı da farklılık gösterecek ve bu da hataya katkıda bulunacaktır.
5. Malzemenin boyutları ve kalınlığı değişkendir ve bu da ölçüm hatalarına neden olabilir.
6. Hataya katkıda bulunan diğer bir faktör, ölçülen maddenin yüzeyinin yeterince pürüzsüz olmamasıdır.
