Daldırma ve STED Mikroskopisi için Derin Odaklanma
Yüksek NA hedeflerinin derinlemesine odaklanması, yüksek çözünürlüklü mikroskopi sistemleri için kritik olan daha küçük bir PSF (nokta yayılma işlevi) üretir. Daldırma mikroskopları gibi diğer birçok mikroskop sisteminde, daldırma sıvısını numuneden ayırmak için bir lamel kullanılır. Bu, odak düzleminde PSF'yi bozabilir. Asimetrik PSF'nin lamel arkasında daha da uzadığını gösteriyoruz. Ek olarak, onlarca nanometre çözünürlükte yaygın olarak kullanılan STED (uyarılmış emisyon tükenmesi) mikroskobu, halka şeklindeki PSF'leri tüketir. P.Török ve PRT Monro tarafından önerilen yöntemi izleyerek, bir Gauss-Lagler ışınının derin odaklamasını modelliyoruz. Toroidal bir PSF'nin nasıl oluşturulacağını gösterir.
Yüksek NA Daldırma Mikroskopları ile Derin Odaklama
VirtualLab Fusion'da, lamel arayüzünün PSF üzerindeki etkisi doğrudan analiz edilebilir. Lamelin arkasındaki odaksal deformasyon tamamen vektörleştirilmiş bir şekilde gösterilir ve analiz edilir.
Gaussian-Laguerre ışınlarının STED mikroskobunda odaklanması
Sonuçlar, yüksek dereceli Gaussian-Laguerre ışınının odaklanmasının halka şeklinde bir PSF ürettiğini göstermektedir. Halka şeklindeki PSF'nin boyutu, diğer değişkenlerin yanı sıra, kirişin belirli sırasına bağlıdır.
