Üniversal Alet Mikroskopları için Ortak Ölçüm Yöntemleri

Nov 18, 2025

Mesaj bırakın

Üniversal Alet Mikroskopları için Ortak Ölçüm Yöntemleri

 

1. Bıçak kenarı yöntemi ve şaft kesme yöntemi:
Bıçak kenarı yöntemi ve eksenel kesme yöntemi, esas olarak dişlerin eksenel bölümünü ölçen optik ve mekanik yöntemlerdir. Bu yöntem aynı zamanda silindirik, konik ve düz numunelerin ölçümünde de kullanılabilir çünkü ayar hatası minimum düzeydedir ve dış etkenlerden etkilenmez. Örneğin düzgün olmayan kenarlar, pah kaplamaları ve diğer faktörlerin etkisi olabilir. Bu ölçüm yöntemini kullanmanın koşulu, numunenin pürüzsüz ve düz bir ölçüm yüzeyine sahip olması ve ölçüm bıçağının, ölçüm düzlemi üzerindeki numuneyle temas edecek şekilde elle numuneye karşı yerleştirilmesidir. Dairesel parçalar için bu ölçüm düzlemi dönme eksenine teğettir ve bıçağın kenarına paralel ince bir çizgi numunenin eksenel bölümünü temsil eder. Açı ölçümünü kullanarak göz merceğinin referans çizgisini ince çizgiyle hizalayın. Aşınmamış bıçağın kenarı, görüş alanındaki artı işaretinin hizalama ekseniyle temas halindedir. Ölçüm yaparken ince çizgiden bıçağın kenarına kadar olan mesafeyi dikkate almaya gerek yoktur. Sadece aşınmış bir bıçakla ölçüm yaparken bıçağın hatasının ölçüm değerinden çıkarılması gerekir. Işık aralığına göre bıçağın konumu kontrol edilirken muayene yüzeyindeki toz ve sıvı kalıntısının hatalara neden olabileceği unutulmamalıdır. Pedin ve aletin yüksekliği önceden eşleştirilmiştir ve yanlış ayarlanamaz. Kullanmadan önce temizlenmelidir.

 

2. Gölge yöntemi:
Gölge yöntemi, numunenin konturunu hizalamak ve şeklini karşılaştırmak için cihazı hızlı bir şekilde ayarlayabilen saf bir optik yöntemdir. Bu ölçüm yöntemi, numunenin gölge görüntüsünü elde etmek için numunenin aşağıdan yukarıya doğru bir optik yola ve hizalama mikroskobunun açık bir aralığına yerleştirilmesini gerektirir. Dairesel bir iş parçasının gölge görüntüsü eksenel bir düzlemin kontur gölgesidir, düz bir numunenin gölge görüntüsü ise kenarları tarafından belirlenir. Dönen bir göz merceği ve mercek üzerindeki kazınmış çizginin gölgeye teğet olduğu bir açı ölçüm merceği kullanarak ölçüm yapın. Numunenin şeklini kendi çizdiği şekille karşılaştırırken, her iki gözle gözlem yapmak için bir projeksiyon cihazı kullanılabilir.

 

3. Yansıma yöntemi:
Yansıma yöntemi aynı zamanda bir optik temas yöntemidir. Yansıma yönteminin özelliği çizgiler, örnek zımba gözleri vb. gibi kenarları ve işaretleri ölçebilmesidir. Bu yöntem aynı zamanda dönen bir göz merceğinin oyulmuş çizgi grafiklerini kullanarak şekilleri karşılaştırabilir. Ölçüm düzlemi mikroskobun net düzlemine göre belirlenir ve bu ölçüm yöntemi esas olarak düz numuneler için kullanılır. Çizgileri ve örnek zımbaları ölçerken açı ölçüm merceği kullanın. Bir deliğin kenarını ölçerken çift görüntülü mercek kullanın. Şekilleri karşılaştırırken dönen bir göz merceği kullanın.

 

4. Mikrometre kolu yöntemi
Mikrometre kaldıraç yöntemi, delikler, çeşitli kavisli yüzeyler ve helisel yüzeyler gibi optik yöntemlerle hizalanamayan yüzeylerin ölçülmesinde kullanılır. İlgili yönlerle veya kavisli yüzeylerle temas halindeyken ölçüm kafası çapının da ölçüm sonuçlarına dahil edilmesi gerektiğine dikkat etmek özellikle önemlidir. Özel ölçüler için uygun kontak çubuklarının yapılması tavsiye edilir. Belirli bir çapa sahip küresel bir ölçüm kafası, yuvarlanma eğrisini kontrol etmek için kullanılabilirken, sivri uçlu bir ölçüm kafası, belirli bir ölçüm yüzeyi içindeki helisel yüzeyi kontrol etmek için kullanılır. Bıçak şekli ölçüm kafası, yalnızca iki koordinat ekseniyle kesitlerin ve uzaysal eğrilerin projeksiyonunu- ölçmek için kullanılır.

 

4Electronic Video Microscope -

Soruşturma göndermek