Metalografik Mikroskopların Çeşitli Endüstriyel Sektörlerdeki Uygulamaları
Metalografik mikroskoplar ilk olarak metalografiden türetilmiştir. Temel amaçları metalografik yapıları gözlemlemek ve onları özellikle metaller ve mineraller gibi opak nesnelerin metalografik yapılarını incelemek için tasarlanmış özel aletler haline getirmektir. Bu opak nesneler sıradan geçirimli ışık mikroskopları altında gözlemlenemez; bu nedenle, metalografik mikroskoplar ile sıradan mikroskoplar arasındaki temel fark, ilkinin aydınlatma için yansıyan ışığı kullanması, ikincisinin ise iletilen ışığa dayanmasıdır.
Metalografik mikroskoplar mükemmel stabilite, net görüntüleme, yüksek çözünürlük ve geniş, düz görüş alanı ile karakterize edilir. Mercek aracılığıyla mikroskobik gözleme ek olarak, bilgisayar (veya dijital kamera) ekranlarında gerçek-zamanlı dinamik görüntüleri de görüntüleyebilirler. Donanım, metalografik bölümler, IC bileşenleri ve LCD/LED üretimi gibi alanlardaki birincil uygulamalarla gerekli görüntüler düzenlenebilir, kaydedilebilir ve yazdırılabilir.
Metalografik mikroskoplar beş tür objektif lensle donatılmıştır: EPI Brightfield Floresan, BD Brightfield/Darkfield, SLWD (Süper Uzun Çalışma Mesafesi), ELWD (Geliştirilmiş Uzun Çalışma Mesafesi) ve düzeltme yakalı olanlar. Donanım endüstrisinde, şiddetli yansımaya sahip donanım parçaları için, gözlem amacıyla BD Brightfield/Darkfield objektif lensleri seçilebilir. Örneğin, LCD endüstrisinde, iletken parçacıkları gözlemlerken ve ölçerken, daha fazla üç-boyutlu görüntüleme elde etmek için metalografik mikroskoplar DIC (Diferansiyel Girişim Kontrastı) ile donatılabilir. DIC, polarize mikroskobik bir gözlem sistemi oluşturan polarizasyon teknolojisini-eşleştirilmiş polarizasyon filtrelerinden kullanır. Nesnelerin çift kırılma özelliklerine bağlı olarak optik yolu yönsel olarak değiştirir. Ancak polarizasyon yalnızca DIC ile birlikte kullanıldığında anlamlıdır; tek başına hiçbir pratik amaca hizmet etmez. IC bileşenleri ve metalografik bölümler gibi mikro-boyutlu nesneleri ölçmek ve analiz etmek için metalografik mikroskoplar kullanıldığında, akıllı Iview-DIMS yazılımı kullanılabilir.
Bu yazılım yüksek hassasiyet sunarak insan ölçüm hatalarını etkili bir şekilde azaltır. Öğrenmesi ve kullanması kolaydır; noktalar, çizgiler, yaylar, yarıçaplar, çaplar ve açılar gibi ilgili boyutların doğru ölçümüne ve analizine olanak tanır. Ayrıca ölçüm görüntülerinin kolayca yakalanmasını ve çeşitli test raporlarının özelleştirilmesini de destekler.
