Transmisyon elektron mikroskobunun uygulamaları ve özellikleri
Transmisyon elektron mikroskobu (TEM), numunelerin iç yapısını gözlemlemek için kullanılan yüksek çözünürlüklü bir mikroskoptur. Numuneye nüfuz etmek ve yansıtılan bir görüntü oluşturmak için bir elektron ışınını kullanır; bu daha sonra numunenin mikro yapısını ortaya çıkarmak için yorumlanır ve analiz edilir.
1. Elektronik kaynak
TEM, ışık ışını yerine elektron ışını kullanır. Jifeng Electronic MA Laboratuvarı tarafından donatılmış Talos serisi transmisyon elektron mikroskobu, ultra yüksek parlaklıkta bir elektron tabancası kullanırken, HF5000 küresel sapma transmisyon elektron mikroskobu bir soğuk alan elektron tabancası kullanır.
2. Vakum sistemi
Numuneden geçmeden önce elektron ışını ile gaz arasındaki etkileşimi önlemek için mikroskobun tamamı yüksek vakum koşulları altında tutulmalıdır.
3. İletim örneği
Numunenin şeffaf olması, yani elektron ışınının numuneye nüfuz edebilmesi, onunla etkileşime girebilmesi ve yansıtılan bir görüntü oluşturabilmesi gerekir. Tipik olarak numunenin kalınlığı nanometreden mikron altı arasında değişir. Jifeng Electronics, yüksek kaliteli ultra ince TEM numuneleri hazırlamak için düzinelerce Helios 5 serisi FIB ile donatılmıştır.
4. Elektronik iletim sistemi
Elektron ışını bir iletim sistemi aracılığıyla odaklanır. Bu lensler optik mikroskoplardaki lenslere benzer ancak elektronların dalga boyu ışık dalgalarına göre çok daha kısa olduğundan lenslerin tasarım ve üretim gereksinimleri daha yüksektir.
5. Görüntü düzlemi
Numuneyi geçtikten sonra elektron ışını bir görüntü düzlemine girer. Bu düzlemde elektron ışınının bilgisi görüntüye dönüştürülür ve dedektör tarafından yakalanır.
6. Dedektör
En yaygın dedektörler floresan ekranlar, CCD (şarj bağlı cihaz) kameralar veya CMOS (tamamlayıcı metal oksit yarı iletken cihaz) kameralardır. Bir elektron ışını, görüntü düzlemindeki bir floresan ekranla etkileşime girdiğinde, görünür ışık üretilerek numunenin yansıtılan bir görüntüsünü oluşturur ve bu, genellikle numunenin yerini belirlemek için kullanılır. Kullanıcının çalışması açısından kullanıcı dostu olmayan karanlık oda ortamında floresan ekranların kullanılması ihtiyacı nedeniyle mevcut üreticiler, floresan ekranın yan tarafının üzerine bir kamera kurarak TEM operatörlerinin ekranı parlak bir şekilde gözlemlemelerine olanak sağlayacak. Numunelerin aranması, bant milinin eğilmesi ve diğer işlemler için ortam. Bu göze çarpmayan gelişme, insan-makine ayrımını başarmanın temelini oluşturur.
7. Görüntü oluşumu
Elektron ışını numuneden geçtiğinde numune içindeki atomlar ve kristal yapı ile etkileşime girerek saçılır ve soğurulur. Bu etkileşimlere bağlı olarak elektron ışınının yoğunluğu görüntü düzleminde bir görüntü oluşturacaktır. Bu görüntülerin tümü iki boyutlu projeksiyon görüntüleridir, ancak örneğin iç yapısı genellikle üç boyutlu olduğundan, örnek içindeki ayrıntılı bilgileri analiz ederken buna özellikle dikkat edilmelidir.
8. Analiz ve Yorumlama
Araştırmacılar görüntüleri gözlemleyerek ve analiz ederek numunenin kristal yapısını, kafes parametrelerini, Kristalografik kusuru, atomik dizilimi ve diğer mikro yapı bilgilerini anlayabilir. Ji Feng, müşterilere tam süreç analizi çözümleri ve profesyonel malzeme analiz raporları sunabilen profesyonel bir malzeme analiz ekibine sahiptir.
