Işık mikroskobu ile elektron mikroskobu arasındaki fark nedir?
1, Farklı görüntüleme prensipleri
Optik mikroskobun temel prensibi, incelenecek numunenin farklı yapılarını kullanarak ışığın farklı özelliklerini absorbe etmek, parlaklık farkı şeklinde numune nesne görüntüsünü sunmaktır. Elektron mikroskobunda, numune yüzeyinde nokta nokta taramada ince odaklanan elektron ışınının kullanılması ve çeşitli fiziksel sinyallerin üretilmesi ile numune etkileşimi, bu sinyaller dedektör tarafından alınır, yükseltilir ve modüle edilmiş sinyallere dönüştürülür ve son olarak numune yüzey görüntüsünün çeşitli özelliklerini yansıtan floresan ekran görüntüsünde.
2, farklı aydınlatma kaynakları
Optik mikroskobun aydınlatma kaynağı görünür ışıktır (gün ışığı veya ışık), elektron mikroskobunda kullanılan aydınlatma kaynağı ise elektron tabancasından gelen elektron akışıdır, çünkü elektron akışının dalga boyu ışığın dalga boyundan çok daha kısadır. dalgalar, dolayısıyla elektron mikroskobunun büyütülmesi ve çözünürlüğü ışık mikroskobundan önemli ölçüde daha yüksektir.
HITACHI transmisyon elektron mikroskobu HT7800-Hitachi Atomik Kuvvet Mikroskobu_Elektron Mikroskobu_Diferansiyel Taramalı Kalorimetre_Termogravimetrik Analiz Cihazı_Spektrofotometre
3, Farklı lensler
Elektron mikroskobu, objektif merceğin büyütülmesinde rol oynayan elektromanyetik mercektir (toroidal elektromanyetik bobinin orta kısmında manyetik bir alan üretebilir), optik mikroskobun objektif merceği ise optik mercekten öğütülmüş bir camdır. Elektron mikroskobunda, optik mikroskoptaki odaklama merceğinin, objektif merceğin ve göz merceğinin işlevleriyle karşılaştırılabilecek üç set elektromanyetik mercek vardır.
4, alan derinliği
Optik mikroskobun genel alan derinliği 2-3um arasındadır, dolayısıyla numunenin yüzey düzgünlüğü çok yüksek gereksinimlere sahiptir, dolayısıyla numune oluşturma süreci nispeten karmaşıktır. Taramalı elektron mikroskobunun alan derinliği birkaç milimetre kadar yüksek olabilir, bu nedenle numune yüzeyinin düzgünlüğü için geometriye gerek yoktur, numune hazırlama nispeten basittir ve bazı numuneler numune hazırlama gerektirmez. Vücut mikroskobu da nispeten geniş bir alan derinliğine sahip olmasına rağmen çözünürlüğü çok düşüktür.
5, farklı hazırlama yöntemlerinde kullanılan örnekler
Daha karmaşık prosedürlerin hazırlanmasında kullanılan doku hücresi örneklerinin elektron mikroskobu ile gözlemlenmesi, teknik zorluklar ve maliyetler daha yüksektir, numune alma, fiksasyon, dehidrasyon ve gömme ve özel reaktiflere ve işlemlere duyulan ihtiyacın diğer yönlerinde, ancak aynı zamanda gömülmeleri de gerekir. 50 ~ 100 nm kalınlığında numunenin ultra ince dilimleri halinde kesilen, ultra ince dilimleyiciye konulan iyi bir doku bloğunda. Işık mikroskobu gözlemine yönelik örnekler genellikle sıradan doku kesiti örnekleri, hücre yayma örnekleri, doku sıkıştırma örnekleri ve hücre damlası örnekleri gibi slaytlara yerleştirilir.
6, çözünürlük
Optik mikroskopta ışığın girişimi ve kırınımı nedeniyle çözünürlük yalnızca 2-5 um arasında sınırlandırılabilir. Elektron mikroskobunun çözünürlüğü 1-3nm'ye ulaşabilir çünkü ışık kaynağı olarak elektron ışınını benimser. Bu nedenle ışık mikroskobunun doku gözlemi mikron düzeyindeki analize, elektron mikroskobununki ise nanometre düzeyindeki analize aittir.
7, Uygulama alanı
Optik mikroskop esas olarak mikron düzeyinde doku gözlemi ve pürüzsüz yüzeylerin ölçümü için kullanılır, çünkü görünür ışığın bir ışık kaynağı olarak kullanılması, bu nedenle yalnızca numune dokusunun yüzey katmanını ve yüzey katmanının altındaki belirli bir doku aralığını gözlemlemekle kalmaz Ayrıca gözlemlenebilir ve rengin tanımlanması için optik mikroskop çok hassas ve doğrudur. Elektron mikroskobu esas olarak numunenin yüzey morfolojisinin nanometre ölçeğinde gözlemlenmesi için kullanılır, çünkü taramalı elektron mikroskobu doku bilgisini ayırt etmek için fiziksel sinyalin yoğunluğuna dayanır, dolayısıyla taramalı elektron mikroskobu görüntüsü tanıma için siyah beyazdır. renkli görüntülerin taranması elektron mikroskobunun yardımcı olamayacağı görülüyor.
