MINI taramalı elektron mikroskobu SEM ve optik mikroskop arasındaki fark
Elektron mikroskobu, aydınlatma kaynağı olarak bir elektron ışınını kullanan ve elektron akışının iletimi veya yansıması ve elektromanyetik merceğin çok seviyeli amplifikasyonu yoluyla numuneyi floresan bir ekran üzerinde görüntüleyen büyük bir alettir. Elektron mikroskobu görünür ışığı elektron akışıyla, mercek ise manyetik alanla değiştirerek elektronların hareketinin değiştirilmesine olanak tanır. Sıradan görünür ışıktan çok daha kısa dalga boylarına sahip X-ışını görüntülemeyi kullanır ve yüksek çözünürlüğe sahiptir. Öte yandan optik mikroskop, küçük nesnelerin büyütülmüş görüntülerini oluşturmak için görünür ışık aydınlatmasını kullanan optik bir araçtır. Özetle, elektron mikroskopları ile optik mikroskoplar arasında birkaç temel fark vardır:
1. Farklı aydınlatma kaynakları. Elektron mikroskobunda kullanılan aydınlatma kaynağı elektron tabancasının yaydığı elektron akışıdır, ışık aynasının aydınlatma kaynağı ise görünür ışıktır (güneş ışığı veya ışık). Elektron akışının dalga boyunun, ışık dalgasının dalga boyundan çok daha kısa olması nedeniyle, elektron mikroskobunun amplifikasyonu ve çözünürlüğü, ışık aynasınınkinden önemli ölçüde daha yüksektir.
2. Farklı lensler. Elektron mikroskobunda büyütücü rol oynayan objektif mercek, elektromanyetik bir mercektir (* alanında manyetik alan oluşturabilen dairesel bir elektromanyetik bobin), hafif bir merceğin objektif merceği ise buzlu camdan yapılmış optik bir mercektir. Elektron mikroskobunda, optik lenslerdeki yoğunlaştırıcı, objektif ve göz merceğinin işlevine eşdeğer olan üç takım elektromanyetik mercek vardır.
3. Farklı görüntüleme ilkeleri. Elektrikli bir aynada, test edilen numuneye etki eden elektron ışını, bir elektromanyetik mercek tarafından güçlendirilir ve görüntüleme için bir floresan ekrana yansıtılır veya görüntüleme için ışığa duyarlı bir filme uygulanır. Elektron yoğunluğundaki farkın mekanizması, elektron ışınının test edilen numuneye etki etmesi durumunda, gelen elektronların malzemenin atomlarıyla çarpışarak saçılmaya neden olmasıdır. Numunenin farklı kısımlarındaki elektronların farklı saçılma dereceleri nedeniyle numunenin elektron görüntüsü yoğunlukla sunulur. Numunenin optik aynadaki nesne görüntüsü, test edilen numunenin farklı yapıları tarafından emilen ışık miktarındaki farklılıktan kaynaklanan bir parlaklık farkı olarak sunulur.
4. Kullanılan örneklerin hazırlanma yöntemleri farklıdır. Elektron mikroskobu gözlemi için kullanılan doku ve hücre örneklerinin hazırlanma süreci karmaşıktır, yüksek teknik zorluk ve maliyete sahiptir. Örnekleme, fiksasyon, dehidrasyon ve yerleştirme aşamalarında özel reaktifler ve işlemler gerekir. Gömüldükten sonra, gömülü doku bloklarının ultra ince bir dilimleyici kullanılarak 50-100nm kalınlığında ultra ince numune dilimleri halinde kesilmesi gerekir. Mikroskop altında gözlemlenen örnekler genellikle sıradan doku kesiti örnekleri, hücre yayma örnekleri, doku sıkıştırma örnekleri ve hücre damlası örnekleri gibi bir cam slayt üzerine yerleştirilir.
Optik mikroskobun çözünürlüğü ışık dalgalarının dalga boyuna bağlıdır. Işık dalgalarının dalga boyuna yakın veya daha küçük nesneler için optik mikroskoplar güçsüzdür. Elektron hareketinin dalga boyu ışık dalgalarından çok daha uzundur ve daha küçük nesneler görülebilir. Optik mikroskop, bir dizi optik mercekten oluşan büyütücü bir görüntüleme sistemidir; elektron mikroskobu ise görünür ışık yerine elektron akışını, mercek yerine manyetik alanı kullanır ve elektronların fotonların yerini almasına izin vererek nesnelerin görüntülenmesini sağlar. optik sistem tarafından görülenlerden daha küçük nesneler.
