Dik veya ters bir mikroskop almalı mıyım?
Malzeme mikroskobu olarak da bilinen metalografik mikroskop, esas olarak metal yapının yapısını gözlemlemek için kullanılır. Dik metalografik mikroskop ve ters metalografik mikroskopa bölünebilir
Dik metalografik mikroskop, gözlem sırasında olumlu bir görüntü üretir, bu da kullanıcının gözlemine ve tanımlamasına büyük kolaylık sağlar. 20-30 mm yüksekliğine sahip metal örneklerini analiz etmeye ve tanımlamanın yanı sıra, insan günlük alışkanlıklara uygunluğu nedeniyle şeffaf, yarı şeffaf veya opak maddeler için daha yaygın olarak kullanılır. 3 mikrondan daha büyük ancak metal seramikler, elektronik yongalar, baskılı devreler, LCD substratlar, filmler, lifler, granüler nesneler, kaplamalar ve diğer malzemeler gibi 20 mikrondan daha küçük hedefleri gözlemlemek, yüzey yapıları ve izleri için iyi görüntüleme efektleri elde edebilir. Buna ek olarak, harici kamera sistemi, daha profesyonel metalografik, ölçüm ve etkileşimli öğretim alanlarının ihtiyaçlarını karşılamak için gerçek zamanlı ve dinamik görüntü gözlemi, tasarruf ve düzenleme, yazdırma ve çeşitli yazılımlarla birleştirilmesi için video ekranına ve bilgisayara kolayca bağlanabilir. Ters metalografik mikroskop, çeşitli metallerin ve alaşımların mikro yapısını tanımlamak ve analiz etmek için optik düzlem görüntüleme kullanır. Metal fiziğinde metalografi incelemek için önemli bir araçtır ve fabrikalarda veya laboratuvarlarda yayın kalitesi, hammadde denetimi veya proses tedavisinden sonra malzeme metalografik yapının araştırılması ve analizi için yaygın olarak kullanılabilir. Sezgisel analiz sonuçları sağlar ve madencilik, metalurji, üretim ve mekanik işleme endüstrilerinde döküm, eritme ve ısıl işlemin kalite tanımlaması ve analizi için önemli bir ekipmandır.
Son yıllarda, mikroelektronik endüstrisinde Chip üretimini desteklemek için yüksek büyütme düzlemsel mikroskopi teknolojisine ihtiyaç nedeniyle, sektörün özel ihtiyaçlarını karşılamak için metalografik mikroskoplar tanıtıldı ve sürekli olarak geliştirildi. Ters metalografik mikroskop, numunenin gözlem yüzeyi çalışma masasının yüzeyine denk geldiğinden, gözlem hedefi çalışma masasının altında bulunur ve yukarı doğru gözlemlenir. Bu gözlem formu, numunenin yüksekliği, kullanımı kolay, enstrüman yapısında kompakt, güzel ve cömert görünüm ile sınırlı değildir. Ters metalografik mikroskop tabanı, büyük bir destek alanına ve kararlı ve güvenilir olan düşük bir ağırlık merkezine sahiptir. Göz merceği ve destek yüzeyi 45 derecede eğilir ve gözlemi rahat hale getirir.
