Kaplama kalınlığı ölçüm cihazı ölçümlerinin doğruluğunu etkileyen çeşitli koşullar
1. Ana metalin manyetik özellikleri
Manyetik kalınlık ölçümü, ısıl işlem ve soğuk çalışma faktörlerinin etkisinden kaçınmak için, ana metalin manyetik özelliklerindeki değişiklikten etkilenir (pratikte yumuşak çeliğin manyetik özelliklerindeki değişiklik hafif olarak kabul edilebilir), cihaz, numunenin ana metaliyle aynı özelliklere sahip standart bir parça kullanılarak kalibre edilmelidir; kaplanacak numune kullanılarak da kalibre edilebilir.
2. Adi metalin elektriksel özellikleri
Ana metalin iletkenliğinin ölçüm üzerinde etkisi vardır ve ana metalin iletkenliği, malzeme bileşimi ve ısıl işlem yöntemiyle ilgilidir. Cihaz, numunenin ana metaliyle aynı özelliklere sahip standart bir parça kullanılarak kalibre edilir.
3. Ana metal kalınlığı
Her enstrümanın ana metalin kritik bir kalınlığı vardır. Bu kalınlıktan daha büyük ölçümler ana metalin kalınlığından etkilenmez.
4. Kenar efekti
Bu alet numune yüzeyinin şeklindeki keskin değişikliklere karşı duyarlıdır. Bu nedenle numunenin kenarına yakın veya iç köşelerdeki ölçümler güvenilir değildir.
5. Eğrilik
Numunenin eğriliği ölçüm üzerinde etkiye sahiptir. Bu etki her zaman eğrilik yarıçapının azalmasıyla önemli ölçüde artar. Bu nedenle kavisli bir numunenin yüzeyinde yapılan ölçümler güvenilir değildir.
6. Numunenin deformasyonu
Prob, yumuşak kaplı numuneleri deforme eder ve bu nedenle bu numuneler üzerinde güvenilir veriler ölçülemez.
7. Yüzey pürüzlülüğü
Ana metalin ve kaplama katmanının yüzey pürüzlülüğü ölçüme etki eder. Pürüzlülük arttıkça etki artar. Pürüzlü yüzeyler sistematik ve kazara hatalara neden olur ve bu tür kazara hataların üstesinden gelmek için her ölçümde farklı konumlarda ölçüm sayısının arttırılması gerekir. Ana metal pürüzlüyse, cihazın sıfır noktasını kalibre etmek için birkaç pozisyon almak üzere baz metal numunesine benzer kaplanmamış pürüzlülük de olmalıdır; veya ana metal ile kaplama katmanını çıkarmak için çözünmüş çözeltiyi aşındırmaz ve ardından cihazın sıfır noktasını kalibre edin.
8.Manyetik alan
Etraftaki çeşitli elektrikli ekipmanların oluşturduğu güçlü manyetik alan, manyetik kalınlık ölçümü yöntemini ciddi şekilde etkileyecektir.
9. Yapışma
Cihaz, probun kaplama tabakasının yüzeyi ile yakın temas etmesini engelleyen yapışan maddelere karşı hassastır, bu nedenle, cihazın probunun ve test parçasının yüzeyinin aynı hizada olmasını sağlamak için yapışan maddelerin çıkarılması gerekir. direkt temas.
10. Prob basıncı ve yan kafa yönü
Numune üzerine yerleştirildiğinde probun uyguladığı basınç miktarı ölçülen okumayı etkiler, dolayısıyla basıncı sabit tutmak önemlidir. Prob kafasının yerleştirilme şeklinin ölçüm üzerinde etkisi vardır. Ölçüm sırasında prob numunenin yüzeyine dik tutulmalıdır.
