Elektronik endüstrisinde küçük cihazların uygulanmasında kızılötesi mikroskopi
I. Uygulama Yönü: Minik Yarı İletken Cihazların Sıcaklık Testinde Kızılötesi Mikroskopi
II.Arkaplan Giriş:
Nanoteknolojinin gelişmesiyle birlikte yukarıdan aşağıya minyatürleştirilmesi yarı iletken teknolojisi alanında giderek daha fazla kullanılmaktadır. Geçmişte entegre teknolojisine "mikroelektronik" teknolojisi diyorduk çünkü transistörlerin boyutları mikron (10-6 metre) ölçeğindeydi. Ancak yarı iletken teknolojisi o kadar hızlı ilerlemektedir ki, her iki yılda bir bir nesil ilerlemekte ve Moore Yasası olarak bilinen orijinal boyutunun yarısına kadar küçülmektedir. Yaklaşık 15 yıl önce, yarı iletkenler mikron altı veya mikrondan küçük çağa girmeye başladı ve ardından derin mikron altı veya mikrondan çok daha küçük çağ geldi. 2001'e gelindiğinde transistörler 0,1 mikrondan, yani 100 nanometreden bile küçüktü. Bu nedenle, nanoelektronik çağıdır ve gelecekteki entegre devrelerin çoğu nanoteknoloji ile yapılacaktır.
Üçüncüsü, teknik gereksinimler:
Şu anda elektronik cihaz arızasının ana şekli termal arızadır. İstatistiklere göre elektronik cihaz arızalarının %55'i sıcaklığın belirtilen değeri aşmasından kaynaklanmaktadır ve sıcaklığın artmasıyla elektronik cihazların arıza oranı katlanarak artmaktadır. Genel olarak konuşursak, elektronik bileşenlerin çalışma güvenilirliği sıcaklığa son derece duyarlıdır, cihaz sıcaklığının her 1 derecelik artışında 70-80 derece düzeyinde, güvenilirlik %5 oranında düşecektir. Bu nedenle cihazların hızlı ve güvenilir sıcaklık tespitine ihtiyaç duyulmaktadır. Yarı iletken cihazların boyutu küçüldükçe, algılama ekipmanının sıcaklık çözünürlüğü ve uzaysal çözünürlüğü daha yüksek gereksinimler ortaya çıkarmaktadır.
Dördüncüsü, site çekim termal haritası (konum: tanınmış bir araştırma enstitüsü Model: INNOMETE SI330)
