Bir stereo mikroskobun gözlem büyütmesi farklı gereksinimlere nasıl uyar?
Stereoskopik mikroskopi, elektronik bileşenlerin, entegre devre kartlarının, döner kesici takımların, mıknatısların vb. üç boyutlu incelenmesi ve gözlemlenmesi için kullanılır. Farklı nesneleri farklı katlarda gözlemleme ihtiyacına dayalı olarak bu farklı gereksinimlere nasıl uyum sağlanır? Birçok açıdan çözülebilir. A. Optik performansla bu elde edilebilir. B. Video gözlemi için seçilebilir. C. Mekanik performansla elde edilebilir. D. Bir ışık kaynağı ile aydınlatılabilir
Optik performans: Ölçülen nesnenin gözlem gereksinimlerine bağlı olarak, büyük büyütme ve görüş alanı gibi sorunları çözmek için farklı göz mercekleri/hedefler seçilir. Yalnızca büyük bir büyütme gerektiğinde, yüksek büyütmeli göz merceği ve objektif merceği değiştirilebilir. Geniş bir görüş alanına ihtiyaç duyulduğunda, bu gereksinim objektif lensin değiştirilmesiyle, göz merceğinin küçültülmesiyle veya geniş görüş alanlı göz merceğinin değiştirilmesiyle sağlanabilir.
Video gözlemi: Optik büyütme yeterli olmadığında telafi olarak elektronik büyütme kullanılabilir. Aynı anda gözlemleyip depolamayı ve korumayı umduğumuzda videoları seçebiliriz. Çeşitli video yöntemleri vardır: A. Monitörü doğrudan kullanabilirsiniz B. Bir bilgisayara bağlanabilirsiniz (dijital CCD veya analog CCD görüntü toplama kartı aracılığıyla) C. Bir dijital kameraya bağlanabilirsiniz (farklı dijital kameraların dikkate alınması gerekir) farklı arayüzler ve aynı mikroskopla uyumluluk)
Mekanik performans: Büyük entegre devre kartlarının kaynaklanması, montajı, muayenesi ve çalışma mesafesi gereksinimleriyle karşılaştığımızda bunları evrensel destekler, külbütör destekleri, büyük mobil platformlar vb. gibi mekanik performansla çözebiliriz. Performans özelliklerinden yararlanarak bunları çözebiliriz. , büyük nesnelerin tespitinde tespit çalışmalarımız doğrudan braketler ve platformlar aracılığıyla tamamlanabilmektedir. Ölçülen nesnemizi hareket ettirmeye gerek yok. Örneğin, test edilen devre kartının büyük boyutu ve hassas eğim gözlemi ihtiyacı nedeniyle, A Şirketinin devre kartının hareket ettirilmesi zordur ve yalnızca mekanik hareket yoluyla test edilebilir. Evrensel bir braketin kullanılması bu kullanım gereksinimlerini aynı anda karşılayabilir.
Işık kaynağı aydınlatması: Işık kaynağı aydınlatması, ölçülen nesnenin net bir şekilde görülebilmesinde çok önemli bir rol oynar. Aydınlatmayı seçerken, ölçülen nesnenin özelliklerine göre (güç, zayıflık ve yansıma gibi ışık gereksinimleri dikkate alınarak) ilgili aydınlatma araçlarını ve aydınlatma yöntemlerini seçmek gerekir. Tipik bir stereo mikroskobun sağladığı geçirgenlik ve eğik aydınlatma aydınlatma ihtiyacınızı karşılayamıyorsa LED soğuk ışık kaynaklı lambalar, dairesel lambalar, tek/çift fiber soğuk ışık kaynaklı lambalar vb.leri de sizler için hazırladık.
