Atomik Kuvvet Mikroskobu (AFM) Sistem Yapısı
1. Kuvvet algılama bölümü:
Atomik kuvvet mikroskobu (AFM) sisteminde tespit edilecek kuvvet, atomlar arasındaki van der Waals kuvvetidir. Yani bu sistemde atomlar arasındaki kuvvet değişikliklerini tespit etmek için bir konsol kullanılır. Bu mikro konsolun uzunluk, genişlik, elastikiyet katsayısı ve iğne ucu şekli gibi belirli özellikleri vardır ve bu özelliklerin seçimi numunenin özelliklerine ve farklı çalışma modlarına göre yapılır ve farklı tipte problar seçilir.
2 Konum algılama bölümü:
Atomik kuvvet mikroskobu (AFM) sisteminde, iğne ucu ile numune arasında etkileşim olduğunda konsol konsolu sallanacaktır. Bu nedenle, konsolun ucunda lazer ışınlandığında, yansıyan ışığın konumu da konsolun salınımına bağlı olarak değişecek ve ofset oluşmasına neden olacaktır. Sistemin tamamında lazer nokta konum detektörü, ofseti kaydetmek ve bunu SPM kontrolörü tarafından sinyal işlemek üzere bir elektrik sinyaline dönüştürmek için kullanılır.
3 Geri bildirim sistemi:
Atomik kuvvet mikroskobu (AFM) sisteminde, sinyal bir lazer detektörü tarafından alındıktan sonra, dahili ayarlama sinyali olarak geri besleme sisteminde geri besleme sinyali olarak kullanılır ve genellikle piezoelektrik seramik tüplerden yapılmış tarayıcıyı hareket ettirir. Numune ile iğne ucu arasındaki uygun kuvveti korumak için uygun şekilde.
Atomik kuvvet mikroskobu (AFM), numunenin yüzey özelliklerini sunmak için yukarıdaki üç parçayı birleştirir: AFM sisteminde, iğne ucu ile numune arasındaki etkileşimi algılamak için küçük bir konsol kullanılır. Bu kuvvet konsolun sallanmasına neden olur ve ardından lazer konsolun ucunu ışınlamak için kullanılır. Salınım oluştuğunda yansıyan ışığın konumu değişecek ve bir kaymaya neden olacaktır. Bu sırada lazer dedektörü bu ofseti kaydedecek ve aynı zamanda sistemin uygun şekilde ayarlanmasını kolaylaştırmak için geri besleme sistemine bu zamanda sinyal sağlayacaktır. Son olarak numunenin yüzey özellikleri görüntü şeklinde sunulacaktır.
