Transmisyon elektron mikroskobunun kullanım alanları ve özellikleri Transmisyon elektron mikroskobunun kullanım alanları ve özellikleri
Transmisyon elektron mikroskobu (TEM), bir numunenin iç yapısını gözlemlemek için kullanılan yüksek çözünürlüklü bir mikroskoptur. Bir numuneye nüfuz etmek ve yansıtılan bir görüntü oluşturmak için bir elektron ışını kullanır; bu daha sonra numunenin mikro yapısını ortaya çıkarmak için yorumlanır ve analiz edilir.
1. Elektron Kaynağı
TEM, ışık ışını yerine elektron ışını kullanır. Jifeng Electronics MA Lab tarafından donatılmış transmisyon elektron mikroskobu Talos serisi, ultra yüksek parlaklıkta bir elektron tabancası kullanır ve küresel sapma transmisyon elektron mikroskobu HF5000, bir soğuk alan elektron tabancası kullanır.
2.Vakum Sistemi
Elektron ışınının numune içerisinden geçmeden önce gazla etkileşime girmesini önlemek için mikroskobun tamamının yüksek vakum koşulları altında tutulması gerekir.
3. İletim örneği
Numunenin şeffaf olması, yani elektron ışınının nüfuz edebilmesi, onunla etkileşime girebilmesi ve yansıtılan bir görüntü oluşturabilmesi gerekir. Tipik olarak numunenin kalınlığı nanometre ila mikron altı aralığındadır. Quarterly, yüksek kaliteli ultra ince TEM numunelerinin hazırlanması için düzinelerce Helios 5 serisi FIB ile donatılmıştır.
4. Elektron İletim Sistemi
Elektron ışını bir iletim sistemi aracılığıyla odaklanır. Bu lensler optik mikroskoplarda kullanılanlara benzer, ancak elektron dalga boyları ışık dalgalarından çok daha kısa olduğundan lenslerin tasarımı ve üretimi daha zahmetlidir.
5. Görüntü Düzlemi
Numuneyi geçtikten sonra elektron ışını bir görüntü düzlemine girer. Bu düzlemde elektron ışınından gelen bilgi görüntüye dönüştürülür ve bir dedektör tarafından yakalanır.
6. Dedektör
En yaygın dedektörler fosfor ekranlar, CCD (Şarj Bağlantılı Cihaz) kameralar veya CMOS (Tamamlayıcı Metal Oksit Yarı İletken) kameralardır. Bir elektron ışını görüntü düzlemindeki bir fosfor ekranla etkileşime girdiğinde görünür ışık üretilir ve sonuçta numunenin yansıtılmış bir görüntüsü elde edilir ve bu genellikle numuneyi bulmak için kullanılır. Fosfor ekranın kullanıcı dostu olmayan karanlık oda ortamında kullanılması gerektiğinden, üreticiler artık fosfor ekranın yan tarafına bir kamera yerleştiriyor, böylece TEM operatörü açık ortamda monitörü gözlemleyerek numune bulabiliyor. , bant eksenini eğme ve diğer işlemler, bu göze çarpmayan iyileştirme, insan-makine ayrımının gerçekleştirilmesinin temelini oluşturur.
7. İmaj Oluşumu
Elektron ışını numuneden geçerken numune içindeki atomik ve kristal yapılarla etkileşime girer, saçılır ve soğurulur. Bu etkileşimlere bağlı olarak elektron ışınının yoğunluğu görüntü düzleminde görüntüler oluşturacaktır. Bu görüntüler iki boyutlu yansıtılmış görüntülerdir, ancak örneğin iç yapısı genellikle üç boyutlu olduğundan, örneğin iç ayrıntıları hakkındaki bilgileri çözerken buna özellikle dikkat edilmelidir.
8. Analiz ve Yorumlama
Araştırmacılar görüntüleri gözlemleyerek ve analiz ederek numunenin kristal yapısını, kafes parametrelerini, kristal kusurlarını, atomik düzenlemeyi ve diğer mikroyapısal bilgilerini anlayabilir. Jifeng, müşterilere tam süreç analiz çözümleri ve profesyonel malzeme analiz raporları sunabilen profesyonel bir malzeme analiz ekibine sahiptir.
