Elektron Mikroskoplarının Türleri ve Özellikleri
Çeşitli tarama elektron mikroskopları vardır ve farklı tarama elektron mikroskopları performans farklılıklarına sahiptir. Elektron tabancasının tipine göre, üç tipe ayrılabilir: alan emisyonu elektron tabancası, tungsten tel tabancası ve lantan heksaborid. Bunlar arasında, alan emisyon taraması elektron mikroskopisi, ışık kaynağının performansına göre soğuk alan emisyon taraması elektron mikroskopisi ve sıcak alan emisyon tarama elektron mikroskopisine ayrılabilir. Soğuk alan emisyon taraması elektron mikroskopisi yüksek vakum koşulları, kararsız ışın akımı, kısa yayıcı ömrü gerektirir ve tek görüntü gözlemiyle sınırlı olan ve sınırlı bir uygulama aralığına sahip iğne ucunun düzenli olarak temizlenmesini gerektirir; Termal alan emisyon tarama elektron mikroskobu sadece uzun bir sürekli çalışma süresine sahip olmakla kalmaz, aynı zamanda kapsamlı analiz elde etmek için çeşitli aksesuarlarla da birleştirilebilir. Jeoloji alanında, sadece numunelerin ön morfolojisini gözlemlememizle kalmaz, aynı zamanda örneklerin diğer özelliklerini analizörlerle birlikte analiz etmemiz gerekir, bu nedenle termal alan emisyon taraması elektron mikroskopisinin uygulanması daha geniştir.
Tarama elektron mikroskopisi mikroskop ailesinde yeni gelen olmasına rağmen, birçok avantajı nedeniyle geliştirme hızı çok hızlıdır.
Cihaz yüksek bir çözünürlüğe sahiptir ve ikincil elektron görüntüleme yoluyla numunenin yüzeyinde yaklaşık 6nm'lik detayları gözlemleyebilir. Bir lab6 elektron tabancası kullanarak 3nm'ye daha fazla geliştirilebilir.
Enstrüman çok çeşitli büyütme değişikliklerine sahiptir ve sürekli olarak ayarlanabilir. Bu nedenle, gerektiğinde gözlem için farklı görüş alanları seçilebilir ve genel iletim elektron mikroskopisi ile elde edilmesi zor olan yüksek parlaklığa sahip net görüntüler de yüksek büyütmede elde edilebilir.
Numunenin alan derinliği ve görüş alanı büyüktür ve görüntü üç boyutlu anlamda zengindir. Doğrudan büyük dalgalanmalar ve numunenin eşit olmayan metal kırık görüntüleri olan kaba yüzeyleri gözlemleyebilir ve insanlara mikroskobik dünyada bulunma hissi verir.
4 örneğin hazırlanması basittir. Blok veya toz numuneleri hafifçe tedavi edildiği veya tedavi edilmediği sürece, maddenin doğal durumuna daha yakın olan bir tarama elektron mikroskobu altında doğrudan gözlemlenebilir.
5. Görüntü kalitesi, parlaklık ve kontrastın otomatik olarak bakımı, numune eğim açısının düzeltilmesi, görüntü dönüşü veya y modülasyonu yoluyla görüntü kontrast toleransının iyileştirilmesi ve görüntünün çeşitli kısımlarındaki ılımlı parlaklık ve karanlık gibi elektronik yöntemlerle etkili bir şekilde kontrol edilebilir ve geliştirilebilir. Çift bir büyütme cihazı veya görüntü seçici kullanılarak, floresan ekranda aynı anda farklı büyütilere sahip görüntüler gözlemlenebilir.
6 kapsamlı analize tabi tutulabilir. Elektron probu olarak işlev görmesini sağlamak ve yansıtılan elektronlar, X-ışınları, katodolüminesans, iletilen elektronlar, burgu elektronları vb. Elektron mikroskopisinin çeşitli mikroskobik ve mikro alan analiz yöntemlerine uygulanmasının genişletilmesi, tarama elektron mikroskopisinin çok işlevliliğini göstermiştir. Ek olarak, morfoloji görüntüsünü gözlemlerken numunenin seçilen mikro alanlarını analiz etmek de mümkündür; Yarıiletken numune tutucu eki takılarak, transistörlerde veya entegre devrelerde PN bağlantıları ve mikro kusurlar bir elektromotif kuvvet görüntü amplifikatörü aracılığıyla doğrudan gözlemlenebilir. Birçok tarama elektron mikroskobu elektron probları için elektronik bilgisayar otomatik ve yarı otomatik kontrolün uygulanması nedeniyle, nicel analiz hızı büyük ölçüde geliştirilmiştir.
