RTO Dijital Osiloskoplarla Zaman ve Frekans Alanlarındaki EMI Sorunlarını Çözme
EMI tanısının anahtarı FFT tekniğidir. Geleneksel osiloskopların FFT fonksiyonu ile frekans alanındaki parametreleri ayarlamak zordur ve spektrum analizi uzun zaman alır. R&S RTO osiloskoplarının FFT arayüzü bir spektrum analizörünü temel aldığından, kullanıcılar tıpkı bir spektrum analizörünü kullanıyormuş gibi başlangıç frekansı, kesme frekansı, bant genişliği çözünürlüğü ve dedektör tipi gibi parametreleri doğrudan ayarlayabilir.
RTO osiloskoplarının geniş bellek derinliği ile birleştirilen güçlü FFT teknolojisi, kullanıcının zaman ve frekans alanı parametrelerini bağımsız olarak ayarlamasına ve hem zaman hem de frekans alanlarında analizleri esnek bir şekilde gerçekleştirmesine olanak tanır. Bu özellikler kullanıcının yayılan parazit kaynaklarını mümkün olduğu kadar çabuk bulmasına olanak tanır.
R&S RTO osiloskopları, frekans alanı analizi için Overlap FFT'yi kullanır. Overlap FFT tekniği, sahte radyasyona karşı yüksek hassasiyet sağlar ve ara sıra sahte frekans noktalarını yakalama kapasitesine sahiptir. Osiloskop ilk önce yakalanan zaman alanı sinyalini bir dizi zaman dilimine böler ve ardından her bir zaman dilimi için spektrumu elde etmek üzere FFT hesaplamaları gerçekleştirir; bu, spektrumdaki düşük enerjili epizodik sahte sinyalleri yakalar.
Daha sonra, farklı oluşum frekanslarına sahip sinyaller farklı renklerle işaretlenir ve tüm zaman dilimlerinin FFT analizli spektrumları, tam bir spektrum oluşturmak üzere birleştirilir.
Radyasyon, epizodik radyasyondan farklı renklerle etiketlenmesiyle ayrılır. Renk kodlama tekniğini kullanan spektrum analizi, EMI emisyonlarının türü ve sıklığı hakkında mükemmel bir tablo sunar.
Pencereli FFT tekniği, kullanıcının yakalanan sinyal üzerinde bir zaman penceresini özelleştirmesine, FFT analizini yalnızca zaman penceresi içindeki sinyaller üzerinde gerçekleştirmesine ve pencereyi kaydırarak zaman alanı sinyalinin her bir bölümü ile zaman alanı sinyalinin her bir bölümü arasındaki yazışmayı analiz etmesine olanak tanır. spektrum. Örneğin teknik, anahtarlamalı bir güç kaynağındaki transistörün aşırı yüklenmesinden kaynaklanan bir EMI problemini analiz etmek için kullanılabilir. Sorunlu noktayı belirledikten sonra kullanıcı, düzeltmenin etkisini hızlı bir şekilde doğrulayabilir.
Şablon aracı aynı zamanda sahte radyasyon sorunlarının analizinde de oldukça etkilidir. Kullanıcılar, frekans alanındaki şablonları tanımlar ve bunları rahatsız edici sinyallere göre ayarlar, böylece hangi sinyallerin spektral ihlallere neden olduğunu doğru bir şekilde belirleyebilirler. Yakalanan sinyaller için bile kullanıcı, pencerenin boyutu ve frekans çözünürlüğü gibi FFT parametrelerini ayarlayabilir. Bu tür güçlü özellikler, kullanıcıların yakalanması zor olan EMI emisyonlarını dikkatli bir şekilde analiz etmelerine olanak tanır.
R&S RTO osiloskopları, zengin yakalama ve analiz özellikleriyle osiloskoplar için yeni bir standart belirliyor. Aynı zamanda R&S HZ-15 yakın alan probu gibi zengin aksesuar seçenekleriyle eksiksiz bir EMI teşhis çözümü sağlar.
