RTO dijital osiloskoplarını kullanarak zaman ve frekans alanlarındaki EMI sorunlarını çözün
RTO dijital osiloskopları, geliştirme mühendislerinin elektronik tasarımı yaparken zaman alanı ve frekans alanındaki EMI sorunlarını analiz etmesine ve EMI'nin nedenlerinin bulunmasına yardımcı olabilir. RTO dijital osiloskop son derece düşük giriş gürültüsüne sahiptir ve hassasiyeti, 0-4GHz'lik tam bant genişliği aralığında 1 mv/böl'e ulaşabilir. RTO'nun gerçek zamanlı FFT spektrum analizi yeteneği, EMI sorunlarını teşhis etmek için yakın alan prob analiziyle birlikte kullanılabilir.
Şekil: R&S RTO dijital osiloskop – düşük gürültülü ön uç/yüksek performanslı FFT, güçlü bir EMI teşhis aracı oluşturur
EMI tanısının anahtarı FFT teknolojisidir. Geleneksel osiloskopların FFT fonksiyonuyla frekans alanındaki parametreleri ayarlamak zordur ve spektrum analizi uzun zaman alır. R&S RTO osiloskopunun FFT çalışma arayüzü bir spektrum analiz cihazına dayandığından, kullanıcılar tıpkı bir spektrum analiz cihazını kullanıyormuş gibi başlangıç frekansı, kesme frekansı, bant genişliği çözünürlüğü ve dedektör tipi dahil olmak üzere parametreleri doğrudan ayarlayabilir.
RTO osiloskopunun geniş bellek derinliği ile birleştirilmiş güçlü FFT teknolojisi, kullanıcıların zaman alanı ve frekans alanı parametrelerini bağımsız olarak ayarlamasına ve zaman alanı ve frekans alanında analizleri esnek bir şekilde yürütmesine olanak tanır. Bu özellikler, kullanıcıların yayılan parazit kaynaklarını mümkün olduğu kadar çabuk tespit etmelerine olanak tanır.
R&S RTO osiloskopu, frekans alanı analizi için Overlap FFT'yi kullanır. Örtüşen FFT teknolojisi, sahte radyasyona karşı yüksek hassasiyet sağlayabilir ve ara sıra sahte frekans noktalarını yakalayabilir. Osiloskop ilk önce yakalanan zaman alanı sinyalini birkaç zaman dilimine böler ve ardından her bir zaman diliminin spektrumunu elde etmek için FFT hesaplamaları gerçekleştirir, böylece düşük enerjili ara sıra sahte sinyaller spektrumda yakalanabilir.
Daha sonra farklı frekanslara sahip sinyaller farklı renklerle işaretlenir ve tüm zaman aralıklarının FFT analiz spektrumu tam bir spektrumda birleştirilir.
Radyasyon ve tesadüfi radyasyon farklı renklerle işaretlenmiştir. Farklı renk işaretleme tekniklerini kullanan spektrum analizi, EMI radyasyonunun tipini ve sıklığını mükemmel bir şekilde gösterebilir.
Pencereli FFT teknolojisi, kullanıcıların yakalanan sinyal üzerinde bir zaman penceresini özelleştirmesine, yalnızca zaman penceresi içindeki sinyal üzerinde FFT analizi yapmasına ve bu pencereyi kaydırarak her zaman alanı sinyali ile spektrum arasındaki ilgili ilişkiyi analiz etmesine olanak tanır. Örneğin, bu teknik, anahtarlamalı güç kaynaklarında transistör aşımının neden olduğu EMI sorunlarını analiz etmek için kullanılabilir. Sorunlu noktayı onayladıktan sonra kullanıcı, düzeltmenin etkisini hızlı bir şekilde doğrulayabilir.
Şablon araçları aynı zamanda başıboş radyasyon problemlerini analiz ederken de oldukça etkilidir. Kullanıcılar frekans alanındaki şablonları tanımlar ve ihlal eden sinyaller için ilgili ayarları yapar, böylece hangi sinyallerin spektrum ihlallerine neden olduğunu doğru bir şekilde belirleyebilirler. Yakalanan sinyaller için bile kullanıcılar, pencere boyutu ve frekans çözünürlüğü gibi FFT parametrelerini ayarlayabilir. Bu tür güçlü işlevler, kullanıcıların yakalanması zor olan EMI radyasyonunun dikkatli analizini yapmasına olanak tanır.
R&S RTO osiloskopu, zengin toplama ve analiz özellikleriyle osiloskoplar için yeni bir standart belirliyor. Aynı zamanda R&S HZ-15 yakın alan probu gibi geniş bir aksesuar yelpazesiyle birleştirildiğinde eksiksiz bir EMI teşhis çözümleri seti sağlar.
