Geleneksel Kaplama Kalınlığı Ölçerlerin Prensipleri
Kaplamalar, kaplama katmanları, kaplamalar, çıkartmalar, kimyasal olarak oluşturulan filmler vb. malzemelerin yüzeyini korumak ve süslemek için oluşturulan kaplama katmanına ilgili ulusal ve uluslararası standartlarda kaplama adı verilmektedir.
Kaplama kalınlığı ölçümü, işleme endüstrisinin ve yüzey mühendisliği kalite denetiminin önemli bir parçası haline gelmiştir ve ürünlerin mükemmel kalite standartlarına ulaşması için gerekli bir araçtır. Ürünlerimizi uluslararası hale getirmek amacıyla, Çin'in ihraç edilen mallarında ve yurtdışıyla ilgili-projelerde kaplama kalınlığına ilişkin açık gereklilikler bulunmaktadır.
Kaplama kalınlığını ölçmeye yönelik ana yöntemler arasında kama kesme yöntemi, hafif kesme yöntemi, elektroliz yöntemi, kalınlık farkı ölçüm yöntemi, tartma yöntemi, X-ışını floresans yöntemi, beta ışını geri saçılma yöntemi, kapasitans yöntemi, manyetik ölçüm yöntemi ve girdap akımı ölçüm yöntemi yer alır. Bu yöntemlerin ilk beşi, hantal ölçüm yöntemlerine ve yavaş hıza sahip olan ve çoğunlukla geleneksel kaplama kalınlık ölçüm cihazlarının prensibine göre numune alma muayenesi için uygun olan tahribatlı tespittir.
X-ışını ve beta ışını yöntemleri,-temassız-tahribatsız ölçümlerdir, ancak ekipman karmaşık ve pahalıdır ve ölçüm aralığı küçüktür. Radyoaktif kaynakların varlığı nedeniyle kullanıcıların radyasyondan korunma düzenlemelerine uyması gerekir. X-ışını yöntemi son derece ince kaplamaları, çift kaplamaları ve alaşım kaplamaları ölçebilir. Beta ışını yöntemi, atom numarası 3'ten büyük olan kaplamaların ve alt tabakaların ölçülmesi için uygundur. Kapasitans yöntemi yalnızca ince iletkenler üzerindeki yalıtım kaplamalarının kalınlığının ölçülmesi için kullanılır.
Teknolojinin sürekli ilerlemesi, özellikle son yıllarda mikrobilgisayar teknolojisinin tanıtılmasıyla birlikte, manyetik ve girdap akımı yöntemlerini kullanan kalınlık ölçüm cihazları minyatürleştirme, zeka, çok işlevlilik, yüksek hassasiyet ve pratiklik yönünde daha fazla ilerleme kaydetmiştir. Ölçümün çözünürlüğü 0,1 mikrona ulaştı ve doğruluk %1'e ulaşabildi, bu da büyük ölçüde geliştirildi. Geniş bir uygulama yelpazesine, geniş bir ölçüm aralığına, kolay kullanıma ve düşük maliyete sahip olması onu endüstride ve bilimsel araştırmalarda yaygın olarak kullanılan bir kalınlık ölçüm cihazı haline getirmektedir.
Tahribatsız yöntemlerin-kullanılması, kaplamaya veya alt tabakaya zarar vermez ve hızlı bir algılama hızına sahip olduğundan, büyük miktarda test çalışmasını ekonomik olarak gerçekleştirebilir.
