Mevcut Mikroskop Aydınlatma Aralıkları
Manuel modellere ek olarak mikroskop, yeni motorlu evrensel aydınlatıcı serisiyle de mevcuttur. Beyaz LED aydınlatıcı parlak alan gözlemi için uygundur. Kullanıcılar gözlem amacına ve çalışmasına göre 12V50W halojen lamba veya beyaz LED ışık kaynağını seçebilirler.
Mikroskop LV-UEP1 evrensel epi-aydınlatıcı, bu evrensel epi-aydınlatıcı aynı zamanda parlak alan, karanlık alan, basit polarize ışık ve DIC gözlemi de gerçekleştirebilir. Aydınlatıcı, aydınlık alandan karanlık alan gözlemine geçiş yaparken alan ve açıklık diyaframlarını otomatik olarak açar. Aydınlık alana geri döndüğünüzde aydınlatıcı otomatik olarak önceki alan ve açıklık koşullarını geri yükler.
Mikroskop LV-UEP2 genel amaçlı epi-aydınlatıcı, parlak alan, karanlık alan, basit polarize ışık ve DIC'ye ek olarak, bu aydınlatıcı aynı zamanda epi-floresan gözlemi de gerçekleştirebilmektedir. Aydınlatıcının deklanşör, görüş alanı ve diyafram diyaframıyla bağlantılı yapısı, optimum aydınlatma koşullarını otomatik olarak ayarlar. Bu özellik, ölçüm mikroskobunu çalıştırmanın karmaşıklığını en aza indirerek kullanıcının gözlem üzerine yoğunlaşmasına olanak tanır.
Mikroskop LV-UEP1 FA Evrensel Epi-Aydınlatıcı Odak Yardımı, bu Evrensel Epi-Aydınlatıcı, Z ekseninde ölçüm yaparken daha iyi netlik sağlamak için isteğe bağlı dikroik prizma destekli odak FA mekanizmasıyla donatılmıştır.
Mikroskop metalografik mikroskop ölçüm yazılımı analizi
1) Yazılım, tane boyutunu ölçmek için yatay çizgiler, dikey çizgiler, çapraz çizgiler, daireler ve diğer düğüm ölçüm yöntemlerini sağlar. Tane sınırlarının hızlı ölçümünü ve hesaplanmasını otomatik olarak belirleyebilir, manuel veya otomatik ölçüm yöntemlerini seçebilir. Ölçüm verileri istatistiksel olarak analiz edilebilir ve ardından çıktı bir Excel raporuna aktarılabilir.
2) Yuvarlaklık, alan ve şekil gibi parametreleri kullanarak kullanıcıların metalografik küreselleşme oranını analiz etmelerine ve ölçmelerine yardımcı olun
3) Seçilen metalografik malzemenin kategorisine göre alan ve alan yüzdesi hesaplanabilir.
4) Gözenekli malzemelerin yüzey gözenekliliğini analiz etmek veya gözeneklerin boyutunu ve alanını belirlemek için de kullanılabilir.
5) Yüksek büyütmeli objektif merceği ve sayısal açıklık sınırlamasının üstesinden gelmek için, küçük dikey alan derinliği ve dikey yükseklik farkı, metalografik yüzeyi oluşturur
bulanık sorun
