Takım mikroskoplarının ölçülmesine giriş
1. Görüntüleme yöntemi: Görüntüleme yöntemi, görüntüleme yöntemini hedeflemek ve bulmak için merkezi Olympus mikroskobunun işaretlerini kullanan bir ölçüm yöntemidir. Ölçüm yaparken, genellikle ilk olarak (metre çizgi) bölme plakası üzerindeki oyulmuş çizgi ile ölçüm parçasının görüntüsünün kenarına yöneliktir ve değer okuma Olympus mikroskobu üzerinde okunur. Ardından, çalışma masası, aynı oyulmuş çizgi ile ölçüm parçasının görüntüsünün diğer tarafını hedeflemek için hareket ettirilir ve * * okumalar yapılır. İki okuma arasındaki fark, test edilen nesnenin ölçülen değeridir.
2. Eksenel kesme yöntemi: Eksenel kesme yöntemi, ölçüm parçasının eksen çizgisini ve ölçüm bıçağındaki oyulmuş çizgiyi hedeflemek ve bulmak için merkezi bir mikroskobun işaretlerini kullanan bir ölçüm yöntemidir. Ölçüm bıçağı Wangong ekranının bir aksesuarıdır. Yüzeyinde iki boyutta 0. Ölçüm yaparken, ölçüm bıçağını ölçüm bıçak pedine yerleştirin ve oyulmuş çizgi yüzeyi ölçüm parçasının ekseninden geçer, ölçüm bıçağının sonunu ölçülen yüzeye sıkıca temas eder. Karşılık gelen metre çizgisiyle hedefleyin, iki ölçüm bıçağının oyulmuş çizgileri arasındaki mesafeyi ölçün ve ölçülen parçanın ölçülen değerini dolaylı olarak ölçün. Ölçüm sırasında hesaplamayı önlemek için, ortadaki dikey metre çizgisinin her iki tarafına dört simetrik olarak dağıtılmış paralel çizginin iki seti kazınır. Her oyulmuş çizgi seti ile orta oyulmuş çizgi arasındaki mesafe, sırasıyla 0. 9 ve 2.7 milimetredir, bu da ölçüm aletinin kesme kenarı ile 0. 3 ve 0. 3x objektif bir lensle bu şekilde hedeflenirken, bölme plakası üzerindeki 0. 9 ve 2.7 mm işaretleri 0. 3 ve 0. Esas olarak ipliklerin zift çapını ölçmek için kullanılır.
3. Temas yöntemi: Temas yöntemi, ölçüm noktasının ölçüm noktasına, çizgisine ve yüzeyine bağlı bir optik delik göstergesinin ölçüm kafasına bağlı çift oyulmuş çizgileri hedeflemek ve konumlandırmak için merkezi bir mikroskobun işaretlerini kullanan bir ölçüm yöntemidir. Ölçürken, optik delik göstergesinin ölçüm kafasını bileşenin yüzeyine (iç ve dış) sıkıca yerleştirin. Diyaframı ölçerken, önce ölçüm kafasını ölçüm parçasının iç deliği ile temas ettirin, maksimum akor uzunluğunu elde edin ve daha sonra metre çizgisinin orta oyulmuş çizgisini optik delik ölçüm cihazının çift seti ile ortaya yerleştirin ve okuma mikroskopunun altındaki bir sayı okuyun; Ardından ölçüm başlığı, ölçüm başlığı diğer taraftaki ölçüm parçasıyla temas edecek şekilde değiştirirken, metre hattı bölme plakasının orta oyulmuş çizgisini, optik delik ölçüm cihazının çift hatları ile ortada tutun ve okuma mikroskobu üzerindeki diğer sayıyı okuyun. İki okuma ve prob çapının gerçek değeri arasındaki fark, ölçüm parçasının iç boyutudur. Prob çapının gerçek değerinin çıkarılması, ölçüm parçasının dış boyutudur.
