Alet mikroskopları nasıl çalışır ve kullanılır?
1. Görüntüleme yöntemi: Görüntüleme yöntemi, görüntüleme yöntemini hedeflemek ve konumlandırmak için merkezi mikroskobun işaretlerini kullanan bir ölçüm yöntemidir. Ölçüm yaparken, genellikle ilk önce ölçüm parçasının görüntüsünün kenarını (metre çizgisi) işaretleme panosuyla hedeflemek ve ardından okuma mikroskobundaki değeri okumak gerekir. Daha sonra tezgahı hareket ettirerek ölçüm parçasının görüntüsünün diğer tarafını aynı işaretleme çizgisiyle hedefleyin ve ikinci bir okuma yapın. İki okuma arasındaki fark, ölçülen nesnenin ölçülen değeridir.
2. Eksen kesme yöntemi: Eksen kesme yöntemi, nesneyi ölçüm parçasının ekseni boyunca hedeflemek ve konumlandırmak için merkezi bir mikroskobun işaretini ve ölçüm bıçağı üzerindeki işareti kullanan bir ölçüm yöntemidir. Ölçme bıçağı Wan Gong Ekranının bir aksesuarıdır. Yüzeyinde, oyulmuş çizgiden kesici kenara kadar 0.3 ve 0.9 milimetre olmak üzere iki boyutta oyulmuş bir çizgi bulunmaktadır. Ölçüm yaparken, ölçüm bıçağını ölçüm bıçağı yastığının üzerine yerleştirin; oyulmuş yüzey ölçüm parçasının ekseninden geçerek ölçüm bıçağının kesici kenarının ölçülen yüzeye sıkıca temas etmesini sağlayın. İlgili ölçüm hattını hedefleyin, iki ölçüm bıçağının oyulmuş çizgileri arasındaki mesafeyi ölçün ve ölçülen parçanın ölçülen değerini dolaylı olarak ölçün. Ölçüm sırasında hesaplamaları önlemek için ortadaki dikey Mizi çizgisinin her iki yanına simetrik olarak dağıtılmış dört paralel çizgiden oluşan iki takım kazınmıştır. Her bir çizgi grubu ile merkez çizgisi arasındaki mesafe sırasıyla 0,9 ve 2,7 milimetredir; bu, ölçme aletinin kesici kenarı ile çizgi arasındaki mesafenin tam olarak üç katıdır; yani {{9} },3 ve 0,9 milimetre. 3x objektifle nişan alırken, bölme plakası üzerindeki 0,9 mm ve 2,7 mm işaretler, ölçüm bıçağı üzerindeki 0,3 mm ve 0,9 mm işaretlere tam olarak bastırır. Bu noktada ölçüm bıçağının kenarı, sayaç çizgisinin orta işaretiyle tam olarak hedeflenir. Esas olarak dişlerin adım çapını ölçmek için kullanılır.
3. Temas yöntemi: Temas yöntemi, hedefleme ve ölçüm için merkezi mikroskobun işaretlemesini ve ölçüm parçasının evrensel ekran aksesuarının (optik delik ölçer) ölçüm noktasına, çizgisine ve yüzeyine bağlı çift çizgileri kullanan bir ölçüm yöntemidir. konumlandırma. Ölçüm yaparken, optik delik ölçerin ölçüm kafasını bileşenin yüzeyine (iç ve dış) sıkıca yerleştirin. Açıklığı ölçerken, maksimum kiriş uzunluğunu elde etmek için öncelikle ölçüm kafasını ölçüm parçasının iç deliğiyle temas ettirin. Daha sonra metre şeklindeki çizginin orta işaret çizgisini optik delik göstergesinin çift çizgili manşonunun ortasına yerleştirin ve okuma mikroskobu altında bir sayı okuyun; Daha sonra, ölçüm başlığı diğer taraftaki ölçüm parçasıyla temas edecek şekilde ölçüm yönünü değiştirin ve ayrıca pirinç çizgisi bölme plakasının ortadaki oymalı çizgisinin hala ortada, ölçüm başlığının çift çizgisiyle kaplandığından emin olun. optik delik ölçer. Okuma mikroskobunda başka bir sayıyı okuyun. İki okuma arasındaki fark artı ölçüm başlığı çapının gerçek değeri, ölçüm parçasının iç boyutudur. Ölçme başlığı çapının gerçek değeri çıkarılırsa, ölçme parçasının dış boyutu olur.
