Dik ve ters metalografik mikroskoplar arasındaki uygulama farklılıkları
Dik ve ters çevrilmiş arasındaki fark, dik numunenin aşağıya, ters çevrilmiş numunenin ise yukarıya yerleştirilmesidir. Dik objektif aşağıya doğru bakıyor ve ters çevrilmiş objektif yukarıya bakıyor.
Ters metalografik mikroskop, numunenin gözlem yüzeyinin tezgah yüzeyi ile çakışması ve yukarı doğru gözlem için gözlem hedefinin tezgahın altında bulunması nedeniyle, bu gözlem şekli numunenin yüksekliği ile sınırlı değildir. Numune hazırlanırken sadece bir gözlem yüzeyi düz olduğundan fabrika laboratuvarlarında, bilimsel araştırma kurumlarında ve üniversitelerde öğretim amaçlı yaygın olarak kullanılmaktadır. Ters metalografik mikroskobun tabanı geniş bir destek alanına, alçak bir ağırlık merkezine sahiptir ve sağlam ve güvenilirdir. Mercek ve destek yüzeyi 45 derece eğilerek gözlemi rahat hale getirir.
Dik metalografik mikroskop, ters metalografik mikroskopla aynı temel işlevlere sahiptir. 20-30mm yüksekliğe sahip metal numunelerinin analiz edilmesi ve tanımlanmasının yanı sıra, insanın günlük alışkanlıklarına uygun olması nedeniyle şeffaf, yarı şeffaf veya opak malzemelerde daha yaygın olarak kullanılmaktadır. Dik bir metalografik mikroskop, gözlem sırasında pozitif bir görüntü oluşturur ve bu da kullanıcının gözlem ve ayrımcılığına büyük kolaylık sağlar. 20-30mm yüksekliğe sahip metal örneklerinin analiz edilmesi ve tanımlanmasına ek olarak, yüzey yapısı ve sermetler, elektronik çipler, baskılı devreler gibi malzemelerin izleri gibi 3 mikrondan büyük ancak 20 mikrondan küçük gözlem hedefleri, LCD alt tabakalar, ince filmler, fiberler, granüler nesneler, kaplamalar vb. iyi görüntüleme efektlerine sahip olabilir.
