Daldırma ve STED mikroskopları için derin odaklama
Yüksek NA hedeflerinin derin odaklanması, yüksek çözünürlüklü mikroskopi sistemleri için kritik olan daha küçük bir PSF (nokta yayılma işlevi) üretir. Daldırma mikroskopları gibi diğer birçok mikroskop sisteminde, daldırma sıvısını numuneden ayırmak için bir lamel kullanılır. Bu, odak düzleminde PSF'yi bozabilir. Asimetrik PSF'nin lamel arkasında daha da uzadığını gösteriyoruz. Ek olarak, onlarca nanometrelik çözünürlüklerle yaygın olarak kullanılan STED (Stimulated Emission Depletion) mikroskobu, toroidal bir PSF tüketir. P.Török ve PRT Monro tarafından önerilen yaklaşımı izleyerek, bir Gauss-Raggler ışınının derin odaklamasını modelliyoruz. Dairesel bir PSF'nin nasıl oluşturulacağını gösterir.
Yüksek NA Daldırma Mikroskopisi ile Derin Odaklama
VirtualLab Fusion'da, lamel arayüzünün PSF üzerindeki etkisi doğrudan analiz edilebilir. Lamelin arkasındaki odak distorsiyonu tamamen vektörel bir şekilde gösterilir ve analiz edilir.
Gaussian-Laguerre ışınlarının STED mikroskobunda odaklanması
Yüksek dereceli Gaussian-Laguerre ışınlarının odaklanmasının halka şeklinde bir PSF ürettiği gösterildi. Halka şeklindeki PSF'nin boyutu, diğer değişkenlerin yanı sıra, kirişin belirli sırasına bağlıdır.
